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Métrologie à petites échelles
Date de réalisation :
01/01/2003
Durée du programme :29 minute(s) et 18 secondes
Classification Dewey :Microscopie, Mesure physique
Catégorie :
Conférences
Niveau :niveau Master (LMD)
Disciplines :Outils, méthodes, techniques et applications, Outils et méthodes de l'ingénieur, Optique
Fiche LOM-FR :
Langue :
Générique :
Français
Générique :
Réalisateur(s) :
CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique
