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Métrologie à petites échelles

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Métrologie à petites échelles

Microscopie à champ proche

Générique

Bernard Cretin LPMO-CNRS

Date de réalisation :

01/01/2003

Durée du programme :

29 minute(s) et 18 secondes

Classification Dewey :

Microscopie, Mesure physique

Catégorie :

Conférences

Niveau :

niveau Master (LMD)

Disciplines :

Outils, méthodes, techniques et applications, Outils et méthodes de l'ingénieur, Optique

Fiche LOM-FR :

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Langue :

Français


Générique :

Réalisateur(s) :

CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique