Métrologie à petites échelles

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Microscopie à champ proche

Générique

Bernard Cretin LPMO-CNRS

Label UNT : UNIT
Date de réalisation : 1 Janvier 2003

Durée du programme : 30 mns

Classification Dewey : Microscopie, Mesure physique
Catégorie : Conférences

Niveau : niveau Master (LMD)

Disciplines : Optique, Outils, méthodes, techniques et applications, Outils et méthodes pour l'ingénieur

Collections : Du côté de la recherche

ficheLom : Voir la fiche LOM
Auteur : CRETIN Bernard

Réalisateur : CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique
Langue : Français

Mots-clés : effet d'échelle, étalon, grandeur physique, mesure, métrologie, microscopie à sonde locale, microscopie en champ proche, microscopie optique, nanométrologie