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Notice
Langue :
Français
Crédits
Samia SERRI (Réalisation), Stephan Borensztajn (Intervention)
Conditions d'utilisation
Copyright : Université Paris Diderot / Université Pierre et Marie Curie / Juillet 2007
DOI : 10.60527/g8qx-9e53
Citer cette ressource :
Stephan Borensztajn. SEC. (2007, 1 juillet). Dans l'oeil du microscope , in Sciences de la matière et sciences de l'ingénieur. [Vidéo]. Canal-U. https://doi.org/10.60527/g8qx-9e53. (Consultée le 29 mai 2024)

Dans l'oeil du microscope

Réalisation : 1 juillet 2007 - Mise en ligne : 2 octobre 2007
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Descriptif

La microscopie électronique à balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy en anglais) est une technique de microscopie basée sur le principe des des intéractions électrons-matière. Un faisceau d'éléctrons balaie la surface de l'échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certainesparticules. Différents détecteurs permettent d'analyser ces particules et de reconstruire une image de la surface. Aujourd'hui, un grand nombre de constructeurs proposent des microscopes à balayage de série équipés de détecteurs d'électrons secondaires et dont la résolution se situe entre 1nm à 20 nm. Stephan Borensztajn, présente le fonctionnement de ce microscope, analyse des images en électrons secondaires, en éléctrons rétrodiffusés ainsi qu'une analyse en selection d'energie ou EDS.

GénériqueRéalisation : Samia Serri Présentation : Stephan Borensztajn (Laboratoire Interfaces et Systèmes Electrochimiques) Image et son : Jean-Paul Flourat Montage et animation : Thierry Maillot Photos : Stephan Borensztajn Musique originale Jérémy Hank Gravier Responsables science en cours : Michèle Brédimas, Jean-Marie Blondeau Moyens Techniques : Studio Vidéo : Université Paris Diderot Remerciements : Luc Beaunier (Laboratoire Interfaces et Systèmes Electrochimiques) Copyright : Université Paris Diderot / Université Pierre et Marie Curie / Juillet 2007

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